IC・電子部品の緊急調達ならアロマン株式会社

TEL.044-934-0034

受付時間 9:00〜17:30(土日祝除く)

●受入検査

受入検査

経験豊富なスタッフにより、入荷から出荷までの全工程において徹底した検査体制を構築し、信頼性の高い製品を提供しています。 他社購入品につきましても検査代行を受け賜ります。

経験豊富なスタッフにより、入荷から出荷までの全工程において徹底した検査体制を構築し、信頼性の高い製品を提供しています。 他社購入品につきましても検査代行を受け賜ります。

検査項目 検査内容 検査装置
外観検査 梱包状態
現品照合
数量確認
外観形状観察(傷、変形、欠け、汚れ)
捺印仕様、状態、端子リード観察
(曲がり、変色、ボール潰れ、脱落、半田溶解の有無)
Pb-Free、RoHS等の環境対応品の確認
光学顕微鏡
ズーム型実体顕微鏡
デジタルマイクロスコープ
外観検査装置
X線透過
(非破壊検査)
構造確認
IC、LSIの場合
(リードフレーム形状、チップサイズ、ボンディングワイヤ状態)
良品、支給品との比較観察
X線透過装置
蛍光X線分析 鉛(Pb)含有分析
RoHS6物質5元素(Cd、Pb、Hg、Cr、Br)含有分析
その他含有元素分析
薄膜FP
蛍光X線分析装置
元素分析
(レーザー誘起ブレークダウン分光法)
異物分析 : 試料表面(メッキなど)の構成元素を特定
多層分析 : 試料の階層構成元素を特定
多点分析 : 試料表面の構成元素を複数箇所で同時に特定
レーザー元素分析装置
電気的特性 2端子間のV/I特性
トランジスタ、ダイオード特性
Open/ Short
カーブトレーサ―
その他 マイコン、PLD、メモリーのブランクチエック
半田濡れ性確認
IC、LSIのパッケージ開封
グループ会社、協力会社にて
対応させていただきます。
(ご依頼内容により有償になります。)

※上記検査につきましては必要に応じて検査報告書の発行も受け賜わります。

※X線透過検査、蛍光X線分析、元素分析、電気的特性につきましては必要により実施し、ご依頼内容により有償になります。

検査機器

外観検査
光学顕微鏡
●型 番 :
DSZT-70IFL
●製造元 :
カートン光学株式会社
DSZT-70IFL
ズーム型実体顕微鏡
●型 番 :
LW-830T
●製造元 :
株式会社 レイマー
LW-830T
デジタルマイクロスコープ
●型 番 :
VHX-8000
●製造元 :
株式会社 キーエンス
VHX-8000
外観検査機(現在準備中)
●型 番 :
LI700E
●製造元 :
株式会社 安永
LI700E
X線透過(非破壊検査)
X線非破壊検査装置
●型 番 :
SMX-1000L Plus
●製造元 :
株式会社 島津製作所
SMX-1000L Plus
蛍光X線分析
蛍光X線分析装置
●型 番 :
EA1400
●製造元 :
株式会社 日立ハイテクサイセンス
EA1400
元素分析(レーザー誘起ブレークダウン分光法)
レーザー元素分析ヘッド
●型 番 :
VHX-8000+EA-300
●製造元 :
株式会社 キーエンス
VHDX-8000+EA-300
電気的特性
カーブトレーサー
●型 番 :
CS-3200
●製造元 :
岩崎通信機株式会社
CS-3200
その他の検査機器
プログラムリーダーライター
●型 番 :
BeeProg2
●製造元 :
エルネック・ジャパン株式会社
BeeProg2
直流安定化電源
●型 番 :
PR36-3A
●製造元 :
株式会社 テクシオ・テクノロジー
PR36-3A
個数はかり
●型 番 :
CUXⅡ-600A
●製造元 :
新光電子株式会社
CUXⅡ-600A
デジタルマルチメーター
●型 番 :
DT4281
●製造元 :
日置電機株式会社
DT4281